[实用新型]一种光学元件制备过程中的拉拔力检测装置有效
| 申请号： | 201720172174.5 | 申请日： | 2017-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN206832387U | 公开（公告）日： | 2018-01-02 |
| 发明（设计）人： | 段美华 | 申请（专利权）人： | 希比希光学（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01L5/00 | 分类号： | G01L5/00;G01M11/08;G01B21/32 |
| 代理公司： | 北京市商泰律师事务所11255 | 代理人： | 毛燕生 |
| 地址： | 101400 北京市怀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种光学元件制备过程中的拉拔力检测装置，该检测装置包括压力机和与压力机固定连接的测力单元，压力机的底座上固定有基板，桶形保持器设置在所述基板上并位于所述测力单元正下方。本申请的检测装置操作简单，测量准确并且可以输出测量数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 元件 制备 过程 中的 拉拔 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种光学元件制备过程中的拉拔力检测装置，该检测装置包括压力机和与压力机固定连接的测力单元，压力机的底座上固定有基板，桶形保持器设置在所述基板上并位于所述测力单元正下方。
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