[实用新型]自热效应检测结构有效
申请号: | 201720174214.X | 申请日: | 2017-02-24 |
公开(公告)号: | CN206774540U | 公开(公告)日: | 2017-12-19 |
发明(设计)人: | 周飞 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(天津)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L23/58 | 分类号: | H01L23/58 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人: | 屈蘅,李时云 |
地址: | 300385 天津市西青*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种自热效应检测结构,所述自热效应测试结构包括一基底;至少两个形成于所述基底上的鳍单元,每个所述鳍单元包括至少一个鳍结构;至少两个形成于所述基底上的第一电极区,每个所述第一电极区横跨一个所述鳍单元中的至少一个鳍结构。这样,通过控制至少一个第一电极区的电压,然后,通过检测比较至少一个第一电极区的I‑V曲线的变化情况,即可知晓器件中的自热效应,能够敏感、有效的反映自热效应情况,以便技术人员及时发现和分析自热效应的影响,及时作出相应的改善措施,提高器件的性能。 | ||
搜索关键词: | 热效应 检测 结构 | ||
【主权项】:
一种自热效应检测结构,其特征在于,包括:一基底;至少两个形成于所述基底上的鳍单元,每个所述鳍单元包括至少一个鳍结构;至少两个形成于所述基底上的第一电极区,每个所述第一电极区横跨一个所述鳍单元中的至少一个鳍结构;以及至少一检测端和至少一被检测端,至少一个所述第一电极区作为所述检测端,至少一个所述第一电极区作为所述被检测端,所述检测端的第一电极区与所述被检测端的第一电极区交替排列。
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