[实用新型]一种光学膜缺陷检测装置有效
申请号: | 201720174489.3 | 申请日: | 2017-02-24 |
公开(公告)号: | CN206618705U | 公开(公告)日: | 2017-11-07 |
发明(设计)人: | 贺庆;周俊明;杨威棣;吴献;李雄;文虎 | 申请(专利权)人: | 湖南远见视觉科技有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/958 | 分类号: | G01N21/958 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 412007 湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种光学膜缺陷检测装置,包括用于产生偏振光投射到光学膜一面的光源;用于在光学膜一侧接收偏振光经过所述光学膜后出射的光、形成光学膜图像的成像设备;用于在获得的光学膜图像中根据图像灰度变化识别出缺陷部位的图像处理系统。所述光学膜具有对光传播方向一致的光学特性,若光学膜中存在瑕疵,在瑕疵部位光传播方向一致性被破坏,以偏振光照射光学膜形成光学膜的偏振图像,在偏振图像中瑕疵部位会表现出明显的明暗变化,从而能够有效地识别出光学膜中的缺陷。因此本实用新型光学膜缺陷检测装置实现了对光学膜更为有效的缺陷检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 光学 缺陷 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种光学膜缺陷检测装置,其特征在于,包括:用于产生偏振光投射到光学膜一面的光源;用于在所述光学膜一侧接收偏振光经过所述光学膜后出射的光、形成光学膜图像的成像设备;用于在获得的所述光学膜图像中根据图像灰度变化识别出缺陷部位的图像处理系统。
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