[实用新型]适合颗粒状粉体光学分析的进样分散回收系统有效

专利信息
申请号: 201720247407.3 申请日: 2017-03-14
公开(公告)号: CN206531753U 公开(公告)日: 2017-09-29
发明(设计)人: 黄廷磊;张姿 申请(专利权)人: 黄廷磊;张姿
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00
代理公司: 桂林市持衡专利商标事务所有限公司45107 代理人: 黄玮
地址: 541004 广西壮族自治*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 实用新型公开了一种适合颗粒状粉体光学分析的进样分散回收系统,包括进出料装置和平铺清扫装置,进出料装置包括设于铺料平台一端上方的漏斗和与漏斗连接的均料机构,均料机构的出口下方设有将颗粒状粉体向铺料平台下料的出料斜板;平铺清扫装置包括将下料的颗粒状粉体从下料端向前摊平而后将摊平的颗粒状粉体向后回收的平铺刮板和清扫刮板,平铺刮板和清扫刮板前、后竖直设置并通过弹性元件吊装于铺料平台上方悬伸的移动杆上,移动杆通过滑块滑动安装于铺料平台外设置的滑动导轨上,于铺料平台的前、后端外,平铺刮板和清扫刮板的底端低于铺料平台。本实用新型实现了粉体的自动分散和回收,效率快,使用方便,适宜取代人工手动作业。
搜索关键词: 适合 颗粒状 光学 分析 分散 回收 系统
【主权项】:
适合颗粒状粉体光学分析的进样分散回收系统,其特征在于包括对应于铺料平台(1)设置的进出料装置和平铺清扫装置,其中:所述进出料装置包括设于铺料平台(1)一端上方的漏斗(2)和与漏斗(2)连接的均料机构(4),所述均料机构(4)的出口下方设有将颗粒状粉体向铺料平台(1)下料的出料斜板(3),均料机构(4)中设有控制出料量的控制开关;所述平铺清扫装置包括将下料的颗粒状粉体从下料端向前摊平而后将摊平的颗粒状粉体向后回收的平铺刮板(5)和清扫刮板(6),所述平铺刮板(5)和清扫刮板(6)前、后竖直设置并通过弹性元件(9)吊装于铺料平台(1)上方悬伸的移动杆(10)上,所述移动杆(10)通过滑块(7)滑动安装于铺料平台(1)外设置的滑动导轨(8)上,所述平铺刮板(5)和清扫刮板(6)的前、后行程大于铺料平台(1)的前、后端,于前、后最大行程处所述平铺刮板(5)和清扫刮板(6)的底端低于铺料平台(1)。
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