[实用新型]智能手机自动感光芯片自动化测试系统有效
| 申请号： | 201720279189.1 | 申请日： | 2017-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN206897883U | 公开（公告）日： | 2018-01-19 |
| 发明（设计）人： | 禹乾勋;赵勇 | 申请（专利权）人： | 深圳市华宇半导体有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市神州联合知识产权代理事务所(普通合伙)44324 | 代理人： | 周松强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种智能手机自动感光芯片自动化测试系统，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，机械手设置在V50测试机上，且V50测试机上设置有遮挡板和测试平台；待测感光芯片放置在测试平台上后，V50测试机与测试DUT连接，测试DUT与待测感光芯片连接，且机械手与待测感光芯片连接；机械手与遮挡板驱动连接，机械手驱动遮挡板遮挡在待测感光芯片的上方，V50测试机对待测感光芯片进行参数测试后，机械手驱动遮挡板移开，且V50测试机对待测感光芯片再次进行参数测试后将测试结果返回给机械手，机械手根据接收到的测试结果对待测感光芯片进行分类。 | ||
| 搜索关键词： | 智能手机 自动 感光 芯片 自动化 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种智能手机自动感光芯片自动化测试系统，其特征在于，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，所述机械手设置在V50测试机上，且所述V50测试机上设置有遮挡板和测试平台；待测感光芯片放置在测试平台上后，所述V50测试机与测试DUT连接，所述测试DUT与待测感光芯片连接，且所述机械手与待测感光芯片连接；所述机械手与遮挡板驱动连接。
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