[实用新型]一种高速DAC测试系统

摘要

一种高速DAC测试系统，包括测试终端，用于产生DP‑QPSK数据流，实现DP‑QPSK编码调制、解码和恢复，进行比对实现测试；任意波形发生器，用于接收DP‑QPSK数据流，输出时钟信号；码型发生器，用于接收DP‑QPSK数据流，输出低速数字信号及控制信号；高速缓存电路，用于将低速数字信号转换为高速数字信号；高速DAC，用于根据时钟信号将高速数字信号转换为高速模拟信号；高速示波器，用于将高速模拟信号发送至测试终端。本实用新型的系统单独对高速DAC进行测试，实现方式和方法简单、成本低。

主权项

一种高速DAC测试系统，包括测试终端，包括DP‑QPSK信号源单元、DP‑QPSK单元和光接收机，该DP‑QPSK信号源单元用于产生DP‑QPSK数据流，该DP‑QPSK单元用于实现DP‑QPSK编码调制得到DP‑QPSK调制光信号；该光接收机与DP‑QPSK单元相连以将DP‑QPSK调制光信号进行解码和恢复；任意波形发生器，与测试终端相连以接收DP‑QPSK数据流，输出时钟信号；码型发生器，与测试终端相连以接收DP‑QPSK数据流，输出低速数字信号及控制信号；高速缓存电路，与码型发生器相连，用于将低速数字信号转换为高速数字信号；高速DAC，与任意波形发生器和高速缓存电路相连，用于根据时钟信号将高速数字信号转换为高速模拟信号；高速示波器，与高速DAC相连，用于将高速模拟信号发送至测试终端；测试终端接收高速模拟信号，结合DP‑QPSK单元实现DP‑QPSK编码调制，经光接收机进行信号解码和恢复，将恢复的信号与DP‑QPSK数据流进行比对实现测试。