[实用新型]近场测量探头校准系统有效
申请号: | 201720374195.5 | 申请日: | 2017-04-11 |
公开(公告)号: | CN206878829U | 公开(公告)日: | 2018-01-12 |
发明(设计)人: | 齐殿元;赵竞;余纵瀛;林军 | 申请(专利权)人: | 工业和信息化部电信研究院 |
主分类号: | H04B17/21 | 分类号: | H04B17/21;H04B17/11 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 郭晓宇,汤在彦 |
地址: | 100191 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型提出了一种近场测量探头校准系统,包括控制器、信号源装置、TEM暗室、空气波导、平坦模型、定向平板天线以及液体波导,定向平板天线紧贴放置于平坦模型的下方,控制器连接信号源装置,信号源装置分别与TEM暗室、空气波导、定向平板天线、液体波导进行连接;待校准的近场测量探头也将分别插入TEM暗室、空气波导、平坦模型、液体波导;控制器控制信号源装置产生信号,并记录信号的实际功率,然后待校准的近场测量探头分别测量TEM暗室、空气波导、平坦模型、液体波导内的实际场强值,并将该数据同TEM暗室、空气波导、平坦模型、液体波导的标准场数据进行比较和处理,之后进行归一化处理,计算得到待校准的近场测量探头的校准因子。 | ||
搜索关键词: | 近场 测量 探头 校准 系统 | ||
【主权项】:
一种近场测量探头校准系统,其特征在于,包括:控制器、信号源装置、TEM暗室、空气波导、平坦模型、定向平板天线以及液体波导,所述定向平板天线紧贴放置于所述平坦模型的下方;所述控制器连接所述信号源装置,用以控制所述信号源装置产生电磁波信号,并记录所述电磁波信号的实际功率;所述信号源装置分别连接所述TEM暗室、空气波导、定向平板天线以及液体波导的射频接口,将所述电磁波信号通过同轴电缆导入所述TEM暗室、空气波导、定向平板天线以及液体波导内;待校准的近场测量探头顺序插入所述TEM暗室、空气波导、平坦模型以及液体波导内,测量得到所述TEM暗室、空气波导、平坦模型以及液体波导内的实际场强值,所述控制器根据所述TEM暗室、空气波导、平坦模型以及液体波导的标准场数据、所述实际场强值以及所述电磁波信号的实际功率,得到所述待校准的近场测量探头的校准因子。
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