[实用新型]一种带自检功能的集成电路测试板有效

专利信息
申请号: 201720425435.X 申请日: 2017-04-21
公开(公告)号: CN206788314U 公开(公告)日: 2017-12-22
发明(设计)人: 周学志;谢清冬 申请(专利权)人: 信丰明新电子科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 341600 江西*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 实用新型实施例提供了一种带自检功能的集成电路测试板,涉及集成电路芯片测试技术领域,包括微处理器和测试板;其中,所述测试板包括控制芯片、预设数量个继电器驱动电路以及第一继电器;其中,所述微处理器通过控制总线分别与所述控制芯片和目标芯片通信;所述控制芯片用以控制所述第一继电器驱动电路来选通不同通路并发送电平信号至所述目标芯片。本实用新型提供的一种带自检功能的集成电路测试板,能够供软件工程师编写程序控制集成电路测试板进行自检,以及时发现测试板对芯片的测试是否正常,从而避免产生批量性的不良品。
搜索关键词: 一种 自检 功能 集成电路 测试
【主权项】:
一种带自检功能的集成电路测试板,其特征在于,包括:微处理器和测试板;其中,所述测试板包括控制芯片、预设数量个继电器驱动电路以及第一继电器;其中,所述微处理器通过控制总线分别与所述控制芯片和目标芯片通信;所述控制芯片用以控制所述第一继电器驱动电路来选通不同测试通路并发送电平信号至所述目标芯片。
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