[实用新型]测试设备及其给电治具有效

专利信息
申请号: 201720516621.4 申请日: 2017-05-10
公开(公告)号: CN206930747U 公开(公告)日: 2018-01-26
发明(设计)人: 胡海;李国泉;王泰山;李成鹏;刘文斌;方继林 申请(专利权)人: 深圳瑞波光电子有限公司;深圳清华大学研究院
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280 代理人: 何青瓦
地址: 518052 广东省深圳市南山区西丽*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型实施例提供了一种给电治具,用于对半导体激光器未电隔离裸BAR测试时注入大电流,给电治具包括探针夹具和多个弹性探针,探针夹具夹持固定多个弹性探针,多个弹性探针的针尖一端处于同一平面。本实用新型实施例还涉及一种测试设备。本实用新型实施例的给电治具的弹性探针针尖处于同一平面,通过测试设备,与未电隔离裸BAR接触良好,有利于未电隔离裸BAR测试。
搜索关键词: 测试 设备 及其 电治具
【主权项】:
一种给电治具,用于对半导体激光器未电隔离裸BAR测试时注入大电流,其特征在于,所述给电治具包括探针夹具和多个弹性探针,所述探针夹具包括探针座和探针固定件,所述探针座和所述探针固定件用于配合以夹持固定所述多个弹性探针,所述多个弹性探针的针尖一端处于同一平面。
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