[实用新型]一种半导体制冷晶粒自动分选机有效
申请号: | 201720547252.5 | 申请日: | 2017-05-17 |
公开(公告)号: | CN207086372U | 公开(公告)日: | 2018-03-13 |
发明(设计)人: | 陈天顺;周创举;卢峥业 | 申请(专利权)人: | 鹏南科技(厦门)有限公司 |
主分类号: | B07C5/342 | 分类号: | B07C5/342;B07C5/02 |
代理公司: | 杭州知瑞知识产权代理有限公司33271 | 代理人: | 巫丽青 |
地址: | 361100 福建省厦门市厦门火*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种半导体制冷片晶粒自动分选机,包括机架;设置在机架上的晶粒运送装置;设置在晶粒运送装置上方和两侧的晶粒检测装置,所述晶粒检测装置包括分别用于识别晶粒上面、前侧面和后侧面的摄像头;与所述晶粒检测装置相连接的图像处理单元,所述图像处理单元控制上述的摄像头依次拍摄照片,图像处理单元对照被比对象对图像信息依次进行判断,确定图像信息中的产品是否为良品,并根据判断结果决定是否输出晶粒取出信号。本实用新型通过采用具有摄像头的晶粒检测装置,通过对晶粒进行三个角度拍照,实现对晶粒的尺寸参数的自动测量并分选,分选结果准确度高,减少了人工检查的误差,提高了精准度,同时也节省了人力,提高了检测效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 制冷 晶粒 自动 分选 | ||
【主权项】:
一种半导体制冷晶粒自动分选机,其特征在于,包括:机架;设置在机架上的晶粒运送装置,所述晶粒运送装置上设有产品监测装置,用于监测待分选晶粒是否到达指定位置;设置在晶粒运送装置的上方和两侧的晶粒检测装置,所述晶粒检测装置包括分别用于识别晶粒上面、前侧面和后侧面的摄像头;与所述晶粒检测装置相连接的图像处理单元,所述图像处理单元接收到所述产品监测装置发出的控制信号后,控制上述的摄像头依次拍摄照片,所述摄像头将拍摄的图像信息返回至所述图像处理单元,所述图像处理单元对照被比对象对图像信息依次进行判断,确定图像信息中的产品是否为良品,并根据判断结果决定是否输出晶粒取出信号;与所述图像处理单元相连接的控制电路,与所述控制电路相连接的晶粒取出装置,所述控制电路接收所述晶粒取出信号并控制所述晶粒取出装置进行晶粒取出操作。
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