[实用新型]一种基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统有效
| 申请号： | 201720676422.X | 申请日： | 2017-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN206906000U | 公开（公告）日： | 2018-01-19 |
| 发明（设计）人： | 陈钦芳;许亮;丁蛟腾;马臻;温文龙 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司61211 | 代理人： | 汪海艳 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统，系统包括沿光路依次设置的脉冲激光光源系统、光源整形系统、平行光管、待测光机系统、探测系统，还包括转台和信号采集和处理系统，脉冲激光光源系统出射的光经平行光管进入待测光机系统，到达待测光机系统的焦面，探测系统测量待测光机系统焦面处辐射能量随时间的分布，信号采集和处理系统计算离轴角度θ的点源透过率PST(θ)，统计bji(θ)，求解LJj(θ)，转动转台角度，测量不同离轴角度下杂散光传输时间分布特性曲线、点源透过率PST(θ)及Jj(θ)。本实用新型分析待测光机系统杂散光传输的时间分布特性与杂散光路径的关系，对系统杂散光问题的分析、定位和控制具有重要指导意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 时间 分辨 透过 散光 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统，其特征在于：包括沿光路依次设置的脉冲激光光源系统(1)、光源整形系统(2)、平行光管(3)、待测光机系统(4)、探测系统(5)，还包括转台(6)和信号采集和处理系统(7)，所述待测光机系统(4)或平行光管(3)位于转台(6)上；所述探测系统(5)位于待测光机系统(4)的焦面上，所述信号采集和处理系统(7)采集探测系统(5)的信号，所述探测系统(5)为具有时间分辨率的探测系统。
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