[实用新型]一种用于检测黑边的EL测试平台有效
| 申请号： | 201720684162.0 | 申请日： | 2017-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN207068799U | 公开（公告）日： | 2018-03-02 |
| 发明（设计）人： | 李琰琪;刘国;王栩生;涂修文;邢国强 | 申请（专利权）人： | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 215129 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于检测黑边的EL测试平台，包括EL测试仪的平台，待测电池片放置于所述平台上；EVA膜，设置于所述平台上方并与待测电池片上下对应，所述EVA膜的底面间隔排布有若干探针；玻璃，设置于所述EVA膜顶面；伸缩件，立设于所述平台上，能够带动所述玻璃、所述EVA膜一起上下运动，及卡板，设置于所述平台上并位于所述玻璃、所述EVA膜的侧部，能够使所述玻璃、所述EVA膜紧压于待测电池片上。该EL测试平台，能够有效检测组件的黑边宽度，测试可靠，一致性好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 el 测试 平台 | ||
【主权项】：
一种用于检测黑边的EL测试平台，其特征在于，包括：EL测试仪的平台(10)，待测电池片(20)放置于所述平台(10)上；EVA膜(30)，设置于所述平台(10)上方并与待测电池片(20)上下对应，所述EVA膜(30)的底面间隔排布有若干探针(31)；玻璃(40)，设置于所述EVA膜(30)顶面；伸缩件(50)，立设于所述平台(10)上，能够带动所述玻璃(40)、所述EVA膜(30)一起上下运动，及卡板(60)，设置于所述平台(10)上并位于所述玻璃(40)、所述EVA膜(30)的侧部，能够使所述玻璃(40)、所述EVA膜(30)紧压于待测电池片(20)上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
