[实用新型]测量仪检测不合格产品的结构有效

专利信息
申请号: 201720748744.0 申请日: 2017-06-26
公开(公告)号: CN207163373U 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 贺可祯;张德田 申请(专利权)人: 淄博丰雁电子元件有限公司
主分类号: G01B5/06 分类号: G01B5/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 255000 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 实用新型公开了测量仪检测不合格产品的结构,包括测量平台和千分表,所述测量平台的上方安装有固定件,所述固定件的下方一侧安装有参考点固定部件,所述参考点固定部件的下端安装在测量平台的上表面,所述测量平台上表面在参考点固定部件下端的一侧放置有被测量部件,所述千分表安装在固定件上,并且在所述的参考点固定部件上端的一侧,所述千分表的下端放置在被测量部件的上表面。本实用新型结构简单,使用方便快捷,提高了生产效率,完成了高精度高度测试的自动化。
搜索关键词: 测量仪 检测 不合格 产品 结构
【主权项】:
测量仪检测不合格产品的结构,包括测量平台(1)和千分表(2),其特征在于:所述测量平台(1)的上方安装有固定件(3),所述固定件(3)的下方一侧安装有参考点固定部件(4),所述参考点固定部件(4)的下端安装在测量平台(1)的上表面,所述测量平台(1)上表面在参考点固定部件(4)下端的一侧放置有被测量部件(5),所述千分表(2)安装在固定件(3)上,并且在所述的参考点固定部件(4)上端的一侧,所述千分表(2)的下端放置在被测量部件(5)的上表面。
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