[实用新型]晶片表面平整度检测仪有效

专利信息
申请号: 201720757272.5 申请日: 2017-06-27
公开(公告)号: CN207019617U 公开(公告)日: 2018-02-16
发明(设计)人: 吴康;吴龙驹;李国洪;杨云松 申请(专利权)人: 蓝晶科技(义乌)有限公司
主分类号: G01B5/28 分类号: G01B5/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 322000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 晶片表面平整度检测仪,在其仪表板上安装有三至四个千分表,千分表用仪表板侧面的固定螺钉固定,仪表板的一侧下部安装有两根定位柱三根支撑脚,仪表板放置在托板上,托板上外圆周内均匀放置晶片,托板放置在转动盘中央,转动盘表面一侧安装有两根托板的定位钉,转动盘表面外圆周上加工有多组平行的双卡槽,转动盘通过环形轴承安装在底板上。采用本技术,将晶片放置在托板表面外圆周面上,将仪表板上的千分表的测量柱放置在同一片晶片表面,操作人一次得到晶片表面多个不同位置的测量数据,从而快速完成对晶片平整度的检测,测量完成后只需要转动转动盘,即可重复上述操作,快速完成托板上多片晶片的检测。
搜索关键词: 晶片 表面 平整 检测
【主权项】:
晶片表面平整度检测仪,在其仪表板(8)下安装有长度相同的三个支撑脚(7),仪表板(8)上安装千分表(9),其特征在于:该检测仪由圆形的仪表板(8)、托板(1)、转动盘(2)和底板(4)组成,在仪表板(8)上安装有三至四个均匀分布的千分表(9),千分表(9)的测量柱(10)下端在一个水平面上,该水平面与三个支撑脚(7)下端确定的平面平行,千分表(9)用仪表板(8)侧面的固定螺钉(11)固定,仪表板(8)的一侧下部安装有两根定位柱(12),仪表板(8)放置在托板(1)上,托板(1)上外圆周内均匀放置晶片(6),仪表板(8)上的支撑脚(7)支撑在晶片(6)外围,千分表(9)的测量柱(10)位于同一块晶片表面上,托板(1)放置在转动盘(2)中央,转动盘(2)表面一侧安装有两根托板(1)的定位钉(3),转动盘(2)表面外圆周上加工有多组平行的双卡槽(13),在转动盘(2)下面中央安装有环形轴承(5),环形轴承(5)下面安装在底板(4)上。
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