[实用新型]一种IC芯片测试分选设备有效
| 申请号： | 201720761150.3 | 申请日： | 2017-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN206935829U | 公开（公告）日： | 2018-01-30 |
| 发明（设计）人： | 查虎中;汪阳 | 申请（专利权）人： | 长电科技（滁州）有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36 |
| 代理公司： | 南京知识律师事务所32207 | 代理人： | 蒋海军,胡锋锋 |
| 地址： | 239000 安徽省滁州市经济*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种IC芯片测试分选设备，属于半导体集成电路元件测试分选设备领域。本实用新型的IC芯片测试分选设备，包括振动盘、直线轨道和测试分选机构，振动盘与直线轨道的进口连接，测试分选机构相对直线轨道的出口设置；测试分选机构包括与水平面垂直且可转动的分度盘，该分度盘的圆周上设有若干安装部，安装部上可拆卸的安装有可相互夹在一起的夹头和夹块。直线轨道的出口处设置有用于阻挡IC芯片的制动件以及吸取IC芯片的吸嘴。本实用新型的目的在于克服现有IC芯片测试分选设备测试分选的产品规格单一的缺陷，提供了一种IC芯片测试分选设备，提高了生产调度灵活性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ic 芯片 测试 分选 设备 | ||
【主权项】：
一种IC芯片测试分选设备，其特征在于：包括振动盘(1)、直线轨道(2)和测试分选机构(5)，所述振动盘(1)与直线轨道(2)的进口连接，测试分选机构(5)相对直线轨道(2)的出口设置；所述测试分选机构(5)包括与水平面垂直且可转动的分度盘(504)，该分度盘(504)的圆周上设有若干安装部(505)，所述安装部(505)上可拆卸的安装有可相互夹在一起的夹头(506)和夹块(507)；所述夹头(506)为L形结构，夹头(506)的中部转动连接在安装部(505)上，夹头(506)的一侧边与夹块(507)接触。
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