[实用新型]一种集成电路芯片可靠性检测夹具有效
申请号: | 201720788246.9 | 申请日: | 2017-06-29 |
公开(公告)号: | CN207067182U | 公开(公告)日: | 2018-03-02 |
发明(设计)人: | 范曾轶;戎嘉敏;曾锦棋 | 申请(专利权)人: | 南京扬贺扬微电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 江苏圣典律师事务所32237 | 代理人: | 贺翔,徐晓鹭 |
地址: | 210000 江苏省南京市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型为一种集成电路芯片可靠性检测夹具,该夹具包括检测底座,在检测底座上设有测试凸台、芯片引脚槽,芯片引脚槽分布在测试凸台两侧,在芯片引脚槽内设有等距的间隔,在间隔内设有弹性绝缘体,弹性绝缘体分布在间隔四周,并且相互接触靠紧;集成电路芯片的引脚插入到芯片引脚槽内,在芯片引脚槽朝向芯片引脚的一侧设置有弹性探针,弹性探针连接在检测压板上;检测压板分为两块,分别对准集成电路芯片的两侧引脚,且贯穿芯片引脚槽,两块检测板中间通过推进结构相互连接,推进结构将所述弹性探针推进到伸出弹性绝缘体外接触到引脚位置。该夹具将芯片引脚采用弹性材料先进行固定,再对其进行检测,提高了夹具的可靠性,结构简单,使用方便。 | ||
搜索关键词: | 一种 集成电路 芯片 可靠性 检测 夹具 | ||
【主权项】:
一种集成电路芯片可靠性检测夹具,其特征在于,该夹具包括检测底座,在所述检测底座上设有测试凸台、芯片引脚槽,所述芯片引脚槽分布在测试凸台两侧,在所述芯片引脚槽内设有等距的间隔,在所述间隔内设有弹性绝缘体,所述弹性绝缘体分布在间隔四周,并且相互接触靠紧;所述集成电路芯片的引脚插入到所述芯片引脚槽内,在所述芯片引脚槽朝向芯片引脚的一侧设置有弹性探针,所述弹性探针连接在检测压板上;所述检测压板分为两块,分别对准集成电路芯片的两侧引脚,且贯穿芯片引脚槽,两块检测板中间通过推进结构相互连接,所述推进结构将所述弹性探针推进到伸出弹性绝缘体外接触到引脚位置。
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