[实用新型]一种全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置有效
申请号: | 201720789261.5 | 申请日: | 2017-06-30 |
公开(公告)号: | CN206906284U | 公开(公告)日: | 2018-01-19 |
发明(设计)人: | 郑维明;康海英;崔大庆;刘联伟 | 申请(专利权)人: | 中国原子能科学研究院 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102413 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型涉及一种全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置,包括位于探测器下方的样品盘架,样品盘架的底面能够水平抽拉,样品盘水平设置于样品盘架的底面上,在样品盘架底面的下方设有压紧装置,在样品盘架两侧边框上设有水平定位装置。本实用新型解决了水平装样系统的全反射X射线荧光仪的装样和样品定位问题,定位装置不影响入射和出射光,该结构操作简单,位置固定。 | ||
搜索关键词: | 一种 全反射 荧光 光谱仪 样品 定位 装置 | ||
【主权项】:
一种全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置,其特征在于:包括位于探测器(1)下方的样品盘架(3),样品盘架(3)的底面能够水平抽拉,样品盘(2)水平设置于样品盘架(3)的底面上,在样品盘架(3)底面的下方设有压紧装置,在样品盘架(3)两侧边框上设有水平定位装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国原子能科学研究院,未经中国原子能科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201720789261.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:上衣(SD05)
- 下一篇:上衣(SD0705)