[实用新型]一种发光器件测试系统有效
| 申请号： | 201720803925.9 | 申请日： | 2017-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN207050958U | 公开（公告）日： | 2018-02-27 |
| 发明（设计）人： | 杨波;刘振辉;韦日文;李景均 | 申请（专利权）人： | 深圳市矽电半导体设备有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518172 广东省深圳市龙岗区龙城*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种发光器件测试系统，解决了常见发光器件测试系统中容易发生光参数测试装置与载片台异常碰撞的情况，造成光参数测试装置的损伤的问题，其技术方案要点是，包括机座；水平滑移连接于所述机座上、用于承载被测发光器件的载片台；设于所述机座上、用于对被测发光器件的光参数进行收集并测试的光参数测试装置；以及，用于对所述光参数测试装置进行保护的导电保护结构，达到具有能够保护的光参数测试装置的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发光 器件 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种发光器件测试系统，其特征在于，包括：机座(1)；水平滑移连接于所述机座(1)上、用于承载被测发光器件的载片台(2)；设于所述机座(1)上、用于对被测发光器件的光参数进行收集并测试的光参数测试装置(3)；以及，用于对所述光参数测试装置(3)进行保护的导电保护结构(4)。
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