[实用新型]一种角度补偿式激光外差干涉位移测量装置有效

专利信息
申请号: 201720823469.4 申请日: 2017-07-07
公开(公告)号: CN207180607U 公开(公告)日: 2018-04-03
发明(设计)人: 张恩政;陈本永 申请(专利权)人: 浙江理工大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/26;G01B9/02
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司33200 代理人: 林超
地址: 310018 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型公开了一种角度补偿式激光外差干涉位移测量装置。包括激光外差干涉位移测量光路部分、激光光斑检测转角测量光路部分和角锥棱镜,并采用镀有半透半反膜的角锥棱镜作为位移和转角测量的测量镜,由激光外差干涉光路产生的干涉信号经光电探测器探测,激光光斑检测转角测量光路产生的激光光斑位置信号。本实用新型能够解决了传统激光干涉位移测量技术中角锥棱镜存在转角误差影响位移测量精度的技术问题,实现了高精度的位移测量,并可实现对被测对象偏摆角、俯仰角和线性位移三个自由度的同时检测。
搜索关键词: 一种 角度 补偿 激光 外差 干涉 位移 测量 装置
【主权项】:
一种角度补偿式激光外差干涉位移测量装置,其特征在于:包括激光外差干涉位移测量光路部分和角锥棱镜(13),激光外差干涉位移测量光路部分包括双频激光器(1)、第一分光镜(2)、第一偏振片(3)、第一光电探测器(4)、第一偏振分光镜(5)、第一四分之一波片(6)、第一平面镜(7)、第二偏振片(8)、第二光电探测器(9)、法拉第旋光器(10)、第二偏振分光镜(11)、第二四分之一波片(12)和第二平面镜(14);双频激光器(1)输出的正交线偏振光,正交线偏振光入射到第一分光镜(2)发生反射和透射分成两束光,第一分光镜(2)的反射光经第一偏振片(3)产生拍频干涉后被第一光电探测器(4)接收;第一分光镜(2)的透射光入射到第一偏振分光镜(5)经反射和透射分成两束光:第一偏振分光镜(5)的反射光作为第一测量光束,第一测量光束经第一四分之一波片(6)后入射到第一平面镜(7)反射,第一平面镜(7)反射光再经第一四分之一波片(6)后返回到第一偏振分光镜(5)发生透射,第一偏振分光镜(5)透射光经第二偏振片(8)透射后入射到第二光电探测器(9);第一偏振分光镜(5)的透射光作为第二测量光束,第二测量光束经法拉第旋光器(10)入射到第二偏振分光镜(11)发生透射,经第二四分之一波片(12)后入射到角锥棱镜(13),被角锥棱镜(13)正常反射后再经第二四分之一波片(12)回到第二偏振分光镜(11),再经第二偏振分光镜(11)反射到第二平面镜(14),经第二平面镜(14)反射后形成逆反光束,逆反光束按原光路逆反回到第一偏振分光镜(5)处,逆反光束经第一偏振分光镜(5)反射后再经第二偏振片(8)透射,然后经第二偏振片(8)入射到第二光电探测器(9);逆反光束和第一测量光束在第二偏振片(8)处透射光产生拍频干涉,被第二光电探测器(9)接收。
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