[实用新型]一种清洗机台反射率测试辅助装置有效
| 申请号： | 201720911412.X | 申请日： | 2017-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN207183220U | 公开（公告）日： | 2018-04-03 |
| 发明（设计）人： | 张美玲 | 申请（专利权）人： | 润峰电力有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/67 | 分类号： | H01L21/67;H01L31/18 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 272000 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 一种清洗机台反射率测试辅助装置，包括电池片输送带，所述电池片输送带为两组，并列设置，所述电池片输送带用于输送电池片，所述电池片位于两组电池片输送带上方，所述电池片输送带之间设置有反射率测试仪，所述反射率测试仪的顶面与电池片输送带顶面平齐或位于电池片输送带顶面下方，本实用新型结构简单，无需硅片转运取出作业，不会造成绒面脏污，并且测试精确，效率高，不依赖人工作业，有效减少外观不良，对反射率监控更加方便精确，提高产量，降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 清洗 机台 反射率 测试 辅助 装置 | ||
【主权项】：
一种清洗机台反射率测试辅助装置，其特征在于包括电池片输送带，所述电池片输送带为两组，并列设置，所述电池片输送带用于输送电池片，所述电池片位于两组电池片输送带上方，所述电池片输送带之间设置有反射率测试仪，所述反射率测试仪的顶面与电池片输送带顶面平齐或位于电池片输送带顶面下方。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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