[实用新型]一种双面下针测试机构有效

专利信息
申请号: 201720943513.5 申请日: 2017-07-31
公开(公告)号: CN207301261U 公开(公告)日: 2018-05-01
发明(设计)人: 王刚;张燕辉 申请(专利权)人: 珠海市运泰利自动化设备有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/073
代理公司: 广州市红荔专利代理有限公司44214 代理人: 王贤义
地址: 519180 广东省珠*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种双面下针测试机构,旨在提供一种检测效率高、通用性好、维修及拆装方便的双面下针测试机构。本实用新型包括上针模组及下针模组,所述上针模组包括上支撑板、安装在所述上支撑板下端的上PCB板及安装在所述的上PCB板下端的上针板模块,所述下针模组包括下支撑板、安装在所述下支撑板上端的下PCB板及安装在所述下PCB板上端的下针板模块。本实用新型应用于电子产品主板测试的技术领域。
搜索关键词: 一种 双面 测试 机构
【主权项】:
一种双面下针测试机构,其特征在于:它包括上针模组(1)及下针模组(2),所述上针模组(1)包括上支撑板(11)、安装在所述上支撑板(11)下端的上PCB板(12)及安装在所述上PCB板(12)下端的上针板模块(13),所述下针模组(2)包括下支撑板(21)、安装在所述下支撑板(21)上端的下PCB板(22)及安装在所述下PCB板(22)上端的下针板模块(23)。
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