[实用新型]一种芯片物理销毁效果电路板上在线检测装置有效
| 申请号： | 201720981435.8 | 申请日： | 2017-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN207181616U | 公开（公告）日： | 2018-04-03 |
| 发明（设计）人： | 张涛;杨建利;周洋;吕景成 | 申请（专利权）人： | 鸿秦（北京）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01K1/02 |
| 代理公司： | 北京高文律师事务所11359 | 代理人： | 徐江华 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种芯片物理销毁效果电路板上在线检测装置，包括温度传感器、判断处理器，温度传感器安装在被销毁的FLASH存储芯片的背面，能够实时采集被销毁的FLASH存储芯片的表面温度，并且把这个温度通过数据连线发送给判断处理器，判断处理器用于通过比较相邻两次温度采样的差值和时间间隔，计算出芯片通电后温度上升的速率是否大于设定值，所述判断处理器与输出装置相连接，传递判断结果。本实用新型实现了能够在电路板上在线检测芯片是否物理销毁，提高了效率，节约了时间，检测装置体积小，使用方便，简单，检测效果准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 物理 销毁 效果 电路板 在线 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片物理销毁效果电路板上在线检测装置，其特征在于：包括温度传感器、判断处理器，温度传感器安装在被销毁的FLASH存储芯片的背面，能够实时采集被销毁的FLASH存储芯片的表面温度，并且把这个温度通过数据连线发送给判断处理器，判断处理器用于通过比较相邻两次温度采样的差值和时间间隔，计算出芯片通电后温度上升的速率是否大于设定值，所述判断处理器与输出装置相连接，传递判断结果。
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