[实用新型]一种电子元器件测试装置有效
| 申请号： | 201721146064.8 | 申请日： | 2017-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN207263797U | 公开（公告）日： | 2018-04-20 |
| 发明（设计）人： | 张勇;夏欢;王耀辉 | 申请（专利权）人： | 金动力智能科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华新区大浪*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种电子元器件测试装置，包括测试底座、校正调节螺栓、升降座和测试部，所述升降座可上下滑动设置在测试底座上，所述校正调节螺栓穿过升降座可转动设置在测试底座上，所述升降座上设置有用于接触测试工件的测试部，所述升降座包括升降板和升降动力板，所述升降板设置在测试底座侧部的导轨上，所述升降动力板水平固设在升降板上端，所述校正调节螺栓穿过升降动力板上的螺纹孔。本实用新型能够用于测试电子元器件的RDC，L/Q值和极性，兼容产品多，适宜性强，探针与元器件锡角的接触可靠、安全，调节简单、方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种电子元器件测试装置，其特征在于：包括测试底座(1)、校正调节螺栓(2)、升降座(3)和测试部(4)，所述升降座(3)可上下滑动设置在测试底座(1)上，所述校正调节螺栓(2)穿过升降座(3)可转动设置在测试底座(1)上，所述升降座(3)上设置有用于接触测试工件的测试部(4)，所述升降座(3)包括升降板(31)和升降动力板(32)，所述升降板(31)设置在测试底座(1)侧部的导轨上，所述升降动力板(32)水平固设在升降板(31)上端，所述校正调节螺栓(2)穿过升降动力板(32)上的螺纹孔。
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