[实用新型]集成电路与用于测试模数转换器电路的内置自测电路

摘要

本公开涉及集成电路与用于测试模数转换器电路的内置自测电路。例如，内置自测(BIST)电路被提供用于测试模数转换器(ADC)。多阶三角积分(ΣΔ)调制器具有接收输入信号的输入、生成从输入信号导出并施加到ADC的输入的模拟测试信号的第一输出、以及生成二进制数据流的第二输出。数字重组和滤波电路具有接收二进制数据流的第一输入和响应于模拟测试信号接收从ADC输出的数字测试信号的第二输入。数字重组和滤波电路对二进制数据流和数字测试信号进行组合并滤波，以生成数字结果信号，该数字结果信号包括从由ADC的操作引入的误差导出的信号分量。相关电路用于隔离该误差信号分量。

主权项

1.一种集成电路，其特征在于，包括：模拟电路域；数字电路域；模数转换器ADC电路，具有耦合到所述模拟电路域的输入和耦合到所述数字电路域的输出；和内置自测BIST电路，被配置为测试所述ADC电路的操作，所述BIST电路包括：多阶三角积分ΣΔ调制器，具有被配置为接收输入信号的输入、被配置为生成从所述输入信号导出的模拟测试信号的第一输出和被配置为生成二进制数据流的第二输出，其中在测试模式操作期间，所述模拟测试信号被施加到所述ADC电路的输入；和数字重组和滤波电路，具有被配置为接收所述二进制数据流的第一输入和被配置为响应于所述模拟测试信号接收从所述ADC电路输出的数字测试信号的第二输入，所述数字重组和滤波电路被配置为对所述二进制数据流和所述数字测试信号进行组合和滤波以生成数字结果信号，所述数字结果信号具有从所述输入信号导出的第一信号分量和从由所述ADC电路的操作引入的误差导出的第二信号分量。