[实用新型]芯片开短路测试装置及系统有效
| 申请号： | 201721193446.6 | 申请日： | 2017-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN207263883U | 公开（公告）日： | 2018-04-20 |
| 发明（设计）人： | 沈丹禹;杨卓豪;宋海宏 | 申请（专利权）人： | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京合智同创知识产权代理有限公司11545 | 代理人： | 李杰 |
| 地址： | 518045 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型实施例提供一种芯片开短路测试装置及系统，属于芯片测试技术领域。芯片开短路测试装置包括集成电路板、第一保护单元和第二保护单元，集成电路板包括控制单元、第一电压输出单元和第二电压输出单元；其中，第一电压输出单元通过第一保护单元与待测芯片中的第一待测点连接；第二电压输出单元通过第二保护单元与待测芯片中的第二待测点连接；控制单元通过第一电压输出单元和第二电压输出单元调节并测量第一待测点和第二待测点的电压，并根据第一待测点和第二待测点的压差确定管脚保护电路是否开短路。该芯片开短路测试装置结构简单，测试效果好。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 短路 测试 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种芯片开短路测试装置，用于对待测芯片(2)进行开短路测试，所述待测芯片(2)包括管脚保护电路，所述管脚保护电路具有第一待测点和第二待测点，其特征在于，所述芯片开短路测试装置包括集成电路板(1)、第一保护单元(3)和第二保护单元(4)，所述集成电路板(1)包括控制单元、第一电压输出单元和第二电压输出单元；其中，所述第一电压输出单元通过第一保护单元(3)与所述待测芯片(2)中的第一待测点连接；所述第二电压输出单元通过第二保护单元(4)与所述待测芯片(2)中的第二待测点连接；所述控制单元通过所述第一电压输出单元和所述第二电压输出单元调节并测量所述第一待测点和所述第二待测点的电压，并根据所述第一待测点和所述第二待测点的压差确定所述管脚保护电路是否开短路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市汇顶科技股份有限公司，未经深圳市汇顶科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201721193446.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
