[实用新型]一种半导体测试探针有效

专利信息
申请号: 201721211602.7 申请日: 2017-09-21
公开(公告)号: CN207248946U 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: 傅马腾 申请(专利权)人: 东莞市台易电子科技有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073
代理公司: 北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙)11638 代理人: 王新爱
地址: 523000 广东省东莞市莞城街道创*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种半导体测试探针,包括存放标、保护盖、第一探头、探针本体和第二探头,所述探针本体上开设有滑动区,且滑动区两端均刻录有螺纹槽,所述第一探头和第二探头分别焊接在探针本体的两端,所述存放标通过套圈套装在探针本体的滑动区上,所述存放标的一端开设有螺纹腔,所述套圈的表面焊接有与螺纹腔相适配的连接轴,所述套圈通过连接轴与存放标上开设的螺纹腔连接,所述保护盖通过旋转轴转动安装在存放标上,所述存放标上开设有收容槽。本实用新型能够在探测过程中合理的使用,同时可进行有效的收容管理,避免探针本体的丢失和损害,有效延长使用寿命,提供探测便捷性。
搜索关键词: 一种 半导体 测试 探针
【主权项】:
一种半导体测试探针,包括存放标(2)、保护盖(3)、第一探头(4)、探针本体(5)和第二探头(9),其特征在于:所述探针本体(5)上开设有滑动区(7),且滑动区(7)两端均刻录有螺纹槽(6),所述第一探头(4)和第二探头(9)分别焊接在探针本体(5)的两端,所述存放标(2)通过套圈(8)套装在探针本体(5)的滑动区(7)上,所述存放标(2)的一端开设有螺纹腔(14),所述套圈(8)的表面焊接有与螺纹腔(14)相适配的连接轴(13),所述套圈(8)通过连接轴(13)与存放标(2)上开设的螺纹腔(14)连接,所述保护盖(3)通过旋转轴(12)转动安装在存放标(2)上,所述存放标(2)上开设有收容槽(11)。
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