[实用新型]一种用于抗静电损伤测试的电路测试板有效
| 申请号： | 201721236500.0 | 申请日： | 2017-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN207557361U | 公开（公告）日： | 2018-06-29 |
| 发明（设计）人： | 雒兴明;张薇;刘刚 | 申请（专利权）人： | 北京锐达芯集成电路设计有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 付生辉 |
| 地址： | 101111 北京市大兴区经济技术*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种用于抗静电损伤测试的电路测试板，包括：芯片接入部、接线部和开关部，其特征在于，通过芯片接入部将待测芯片接入电路测试板，接线部将芯片接入部与开关部电连接，在测试时，接线部将开关部选择的外接电源的电信号传递至待测芯片，以选择性地对待测芯片的管脚进行抗静电测试。 | ||
| 搜索关键词： | 开关部 抗静电 芯片 电路测试板 待测芯片 损伤测试 接线 电信号传递 测试 接入电路 外接电源 测试板 电连接 接线部 管脚 | ||
【主权项】：
1.一种用于抗静电损伤测试的电路测试板，包括：芯片接入部、接线部和开关部，其特征在于，通过所述芯片接入部将待测芯片接入所述电路测试板，所述接线部将所述芯片接入部与所述开关部电连接，在测试时，所述接线部将所述开关部选择的外接电源的电信号传递至所述待测芯片，以选择性地对所述待测芯片的管脚进行抗静电测试。
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