[实用新型]一种深紫外光倍频测试装置有效

专利信息
申请号: 201721252633.7 申请日: 2017-09-27
公开(公告)号: CN207336352U 公开(公告)日: 2018-05-08
发明(设计)人: 宗楠;杨峰;杨尚;彭钦军;许祖彦;张申金;王志敏;张丰丰 申请(专利权)人: 中国科学院理化技术研究所
主分类号: G01N21/33 分类号: G01N21/33
代理公司: 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 代理人: 陈超;李春玲
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种深紫外光倍频测试装置,属于光学非线性频率变化技术领域,该测试装置包括:光源(1)设置在密闭暗室(2)外部的入口处,其发出紫外光进入到密闭暗室(2)内形成光路;密闭暗室(2)为真空或填充氮气的暗室;样品架(3)活动的设置在密闭暗室(2)内的光路上;样品库(4)设置在光路的一侧与样品架(3)对应的位置,容纳有一种或多种样品;样品控制杆(5)一端与样品架(3)连接,另一端伸出密闭暗室(2),控制样品架(3)在样品库(4)与光路之间移动。本实用新型通过活动设置的样品架(3)和样品控制杆(5)实现了在密闭暗室(2)中置换样品无需开腔的目的,测量误差小,保证了测试结果的重复性和可比性。
搜索关键词: 一种 深紫 倍频 测试 装置
【主权项】:
1.一种深紫外光倍频测试装置,用于发出紫外光照射样品产生深紫外倍频光,其特征在于,包括:光源(1),设置在密闭暗室(2)外部的入口处,其发出紫外光进入到密闭暗室(2)内形成光路,所述密闭暗室(2)为真空或填充氮气的暗室;样品架(3),活动的设置在所述密闭暗室(2)内的所述光路上;样品库(4),设置在所述光路的一侧与所述样品架(3)对应的位置,容纳有一种或多种样品;样品控制杆(5),其一端与所述样品架(3)连接,另一端伸出所述密闭暗室(2),设置为控制所述样品架(3)在所述样品库(4)与所述光路之间移动。
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