[实用新型]一种集成电路测试设备接口板

摘要

本实用新型公开了一种集成电路测试设备接口板，包括PCB板和测试设备，PCB板顶部的两端位于第三钻孔之间分布有电源模块和电路模块，PCB板的上表面接触连接有测试子板，圆孔的上表面四周均匀环绕有扩展模块，第三钻孔内贯穿有与测试设备顶部啮合的螺栓，第一钻孔和第二钻孔内贯穿有与测试子板啮合的螺栓。本集成电路测试设备接口板，用这种方式可以大大降低测试成本，免去高额的定制化费用，并且在将来使用阶段，以应对不同芯片wafer测试，方便将测试子板与测试设备和PCB板进行安装和拆卸，该PCB板不仅适用现有93k测试设备，而且可以扩展满足不同芯片wafer测试，使用这种PCB板可以大大降低测试成本，免去定制化高额的开模费用。

主权项

1.一种集成电路测试设备接口板，包括PCB板（1）和测试设备（5），其特征在于：所述PCB板（1）上开设有第一钻孔（11）、第二钻孔（12）和第三钻孔（13），PCB板（1）顶部的两端位于第三钻孔（13）之间分布有电源模块（2）和电路模块（3），PCB板（1）顶面中心位于第一钻孔（11）之间开设有圆孔（14），PCB板（1）的上表面接触连接有测试子板（6），所述圆孔（14）的上表面四周均匀环绕有扩展模块（4），第一钻孔（11）位于第二钻孔（12）之间，第三钻孔（13）内贯穿有与测试设备（5）顶部啮合的螺栓，所述扩展模块（4）与测试子板（6）电性连接，第一钻孔（11）和第二钻孔（12）内贯穿有与测试子板（6）啮合的螺栓。