[实用新型]一种可侦测镭射偏移的PCB

摘要

本实用新型公开了一种可侦测镭射偏移的PCB，包括主板和位于主板边缘的折边测试模块，折边测试模块包括第一层测试板、第二层测试板、第三层测试板、第四层测试板、第五层测试板和第六层测试板，第一层测试板、第二层测试板、第五层测试板和第六层测试板沿着折边测试模块的长度方向皆依次设有接地测试点、层偏测试点和备用测试点，第三层测试板和第四层测试板沿着折边测试模块的长度方向皆依次设有3个防击穿点，3个防击穿点的位置依次与接地测试点、层偏测试点和备用测试点相对应，接地测试点、层偏测试点、备用测试点和防击穿点分别贯通其所在测试板。本实用新型节省了大量的人力，提高检测效率，不会破坏主板，从而降低生产成本。

主权项

一种可侦测镭射偏移的PCB，其特征在于：包括主板(1)和位于所述主板边缘的折边测试模块(2)，所述折边测试模块包括第一层测试板(21)、第二层测试板(22)、第三层测试板(23)、第四层测试板(24)、第五层测试板(25)和第六层测试板(26)，所述第一层测试板、所述第二层测试板、第五层测试板和第六层测试板沿着折边测试模块的长度方向皆依次设有接地测试点(211)、层偏测试点(212)和备用测试点(213)，所述第三层测试板和所述第四层测试板沿着折边测试模块的长度方向皆依次设有3个防击穿点(231)，3个所述防击穿点的位置依次与所述接地测试点、所述层偏测试点和所述备用测试点相对应，所述接地测试点、所述层偏测试点、所述备用测试点和所述防击穿点分别贯通其所在测试板；所述第二层测试板的接地测试点、所述第二层测试板的层偏测试点和所述第二层测试板的备用测试点依次连接，所述第五层测试板的接地测试点、所述第五层测试板的层偏测试点和所述第五层测试板的备用测试点依次连接，所述第一层测试板的接地测试点、所述第二层测试板的接地测试点和所述第三层测试板的防击穿点依次叠合导通，所述第一层测试板的层偏测试点、所述第二层测试板的层偏测试点和所述第三层测试板的防击穿点依次叠合导通，所述第一层测试板的备用测试点、所述第二层测试板的备用测试点和所述第三层测试板的防击穿点依次叠合导通，所述第六层测试板的接地测试点、所述第五层测试板的接地测试点和所述第四层测试板的防击穿点依次叠合导通，所述第六层测试板的层偏测试点、所述第五层测试板的层偏测试点和所述第四层测试板的防击穿点依次叠合导通，所述第六层测试板的备用测试点、所述第五层测试板的备用测试点和所述第四层测试板的防击穿点依次叠合导通；所述接地测试点和所述防击穿点皆为实心圆铜，所述层偏测试点和所述备用测试点皆为空心圆铜，所述空心圆铜的中心设有镭射孔(3)。