[实用新型]一种计算机性能衰减测试装置

摘要

本实用新型公开了一种计算机性能衰减测试装置，包括测试仪机壳和散热扇，所述散热扇的外侧设置有散热扇保护罩，所述测试仪机壳的正面设置有显示屏所述硬盘测试模块的下方设置有数字集成电路测试功能模块，所述数字集成电路测试功能模块的底部设置有模拟集成电路测试功能模块。本实用新型的有益效果是：在装置的顶部设置散热扇，在装置的两侧设置通风槽，通过安装的这两种设备，可有效的将测试装置高速运转时产生的热能散去，保护了装置的持久运行，并产生精确的数据，还提高了检测装置的使用寿命；将硬盘检测装置和集成电路检测装置结合在一起，可对计算机内的主要两个结构装置进行检测，使得测试装置的检测效率得到提升。 1

主权项

1.一种计算机性能衰减测试装置，包括测试仪机壳（2）和散热扇（4），其特征在于：所述测试仪机壳（2）的顶部设置有四个均匀分布的缓冲垫（10），所述测试仪机壳（2）的两侧设置有相互对称的通风槽（15），所述测试仪机壳（2）的上方设置有手提杆（5），两个相互对称的所述散热扇（4）安装在测试仪机壳（2）的顶部，所述散热扇（4）的外侧设置有散热扇保护罩（3），所述测试仪机壳（2）的正面设置有显示屏（1），所述显示屏（1）的下方设置有电源接口（6），所述电源接口（6）的一侧设置有USB接口（7），所述USB接口（7）的另一侧设置有电源开关（8），所述电源开关（8）远离USB接口（7）的一侧设置有指示灯（9），所述显示屏（1）的一侧设置有硬盘测试模块（11），所述硬盘测试模块（11）的下方设置有数字集成电路测试功能模块（12），所述数字集成电路测试功能模块（12）的底部设置有模拟集成电路测试功能模块（13）。

2.根据权利要求1所述的一种计算机性能衰减测试装置，其特征在于：所述手提杆（5）通过紧固螺丝（14）安装在测试仪机壳（2）的顶部。

3.根据权利要求1所述的一种计算机性能衰减测试装置，其特征在于：所述硬盘测试模块（11）与测试仪机壳（2）、数字集成电路测试功能模块（12）与测试仪机壳（2）、模拟集成电路测试功能模块（13）与测试仪机壳（2）和通风槽（15）与测试仪机壳（2）均为一体式结构。

4.根据权利要求1所述的一种计算机性能衰减测试装置，其特征在于：所述缓冲垫（10）与测试仪机壳（2）的连接方式为螺纹连接。

5.根据权利要求1所述的一种计算机性能衰减测试装置，其特征在于：所述电源开关（8）与显示屏（1）、硬盘测试模块（11）与显示屏（1）、数字集成电路测试功能模块（12）与显示屏（1）和模拟集成电路测试功能模块（13）与显示屏（1）的连接方式均为电性连接。

6.根据权利要求1所述的一种计算机性能衰减测试装置，其特征在于：所述散热扇保护罩（3）与测试仪机壳（2）的连接方式为卡合连接。