[实用新型]一种纳米亚微米测试装置有效
| 申请号： | 201721531881.5 | 申请日： | 2017-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN207816768U | 公开（公告）日： | 2018-09-04 |
| 发明（设计）人： | 任中京;刘天胜;王斐斐 | 申请（专利权）人： | 济南微纳颗粒仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 山东众成清泰律师事务所 37257 | 代理人： | 牟迅 |
| 地址： | 250000 山东省济南市高新*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种纳米亚微米测试装置，包括样品窗1、激光器2、第一探测器3、第二探测器、支架6、上盖7、下盖8、进水口9、出水口10，所述样品窗1固定在上盖7和下盖8之间，上盖7和下盖8上分别有进水口9和出水口10，在样品窗1的后侧固定的第一探测器3为19联探测器，在样品窗1的前侧依次固定有激光器2、第二探测器和支架6。其中样品窗1、第一探测器3、第二探测器和激光器2的角度位置等均经过精确计。本实用新型测试精度高，操作简单，光学器件便于维护，避免了长时间运行造成测试误差。 | ||
| 搜索关键词： | 样品窗 第二探测器 第一探测器 激光器 上盖 下盖 本实用新型 微米测试 出水口 进水口 支架 测试误差 光学器件 角度位置 固定的 探测器 测试 维护 | ||
【主权项】：
1.一种纳米亚微米测试装置，包括样品窗（1）、激光器（2）、第一探测器（3）、第二探测器、支架（6）、上盖（7）、下盖（8）、进水口（9）、出水口（10），其特征在于：所述样品窗（1）固定在上盖（7）和下盖（8）之间，上盖（7）和下盖（8）上分别有进水口（9）和出水口（10），所述第一探测器（3）安装在样品窗（1）的后侧，所述激光器（2）、第二探测器、支架（6）依次安装在样品窗（1）的前侧，所述样品窗（1）分别有靠近激光器（2）的入光面和靠近第一探测器（3）的出光面，激光器（2）发射的光束主轴与样品窗（1）的入光面形成一夹角，所述夹角为10°至90°。
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