[实用新型]一种北斗芯片测试装置有效

专利信息
申请号: 201721581798.9 申请日: 2017-11-23
公开(公告)号: CN207440248U 公开(公告)日: 2018-06-01
发明(设计)人: 王森林;金国文;黄维;闵雁 申请(专利权)人: 长沙海格北斗信息技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 410007 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 实用新型公开了一种北斗芯片测试装置,包括用于测试北斗芯片的盒体状机箱壳体和与机箱壳体相配装的机箱上盖板,所述机箱壳体内的底板上通过螺栓固定有用于测试北斗芯片性能的芯片测试主板,芯片测试主板上固定设置有与芯片测试主板连接用于放置待测试北斗芯片的芯片测试座;所述机箱上盖板上对应芯片测试座的位置开设有用于放入芯片进行测试的测试窗口,机箱上盖板上设置有通过固定在机箱上盖板下端面测试窗口前后两侧的滑盖板导轨进行左右滑动、用于开启和关闭测试窗口的测试窗口滑盖板。本实用新型结构简单、操作方便,通过设置的测试窗口滑盖板,防止异物落入测试箱,保证了测试的可靠性,提高了工作效率。
搜索关键词: 北斗芯片 测试窗口 上盖板 芯片测试主板 测试 滑盖板 机箱 本实用新型 芯片测试座 测试装置 机箱壳体 底板 防止异物 工作效率 固定设置 螺栓固定 左右滑动 测试箱 盒体状 机箱壳 下端面 导轨 放入 相配 在机 体内 芯片 保证
【主权项】:
1.一种北斗芯片测试装置,包括用于测试北斗芯片的盒体状机箱壳体(1)和与机箱壳体(1)相配装的机箱上盖板(2),其特征在于:所述机箱壳体内的底板上通过螺栓固定有用于测试北斗芯片性能的芯片测试主板(7),芯片测试主板(7)上固定设置有与芯片测试主板连接用于放置待测试北斗芯片的芯片测试座(8);所述机箱上盖板(2)上对应芯片测试座(8)的位置开设有用于放入芯片进行测试的测试窗口,机箱上盖板(2)上设置有通过固定在机箱上盖板(2)下端面测试窗口前后两侧的滑盖板导轨(6)进行左右滑动、用于开启和关闭测试窗口的测试窗口滑盖板(3)。
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