[实用新型]一种半导体芯片测试仪

摘要

本实用新型公开了一种半导体芯片测试仪，包括底座，所述底座的上端一侧固定连接有主框架，所述底座的上端内壁设有安装卡槽，且安装卡槽内设有载物板，所述载物板的外壁两侧对称固定连接有固定板，且固定板远离载物板的一端固定连接有限位块，所述安装卡槽的内壁设有与限位块对应的限位槽，所述固定板与安装卡槽的底壁之间连接有若干个弹簧，所述载物板的上端贴合放置有半导体芯片，所述主框架的外壁一侧设有显示屏，显示屏的下方设有控制按钮，且显示屏的两侧对称设有收纳槽，所述收纳槽内设有测试笔。本实用新型结构简单，易操作，能够有效避免测试芯片的损坏，降低了检测的成本，提高检测的成功率。

主权项

1.一种半导体芯片测试仪，包括底座（1），其特征在于：所述底座（1）的上端一侧固定连接有主框架（2），所述底座（1）的上端内壁设有安装卡槽（4），且安装卡槽（4）内设有载物板（5），所述载物板（5）的外壁两侧对称固定连接有固定板（6），且固定板（6）远离载物板（5）的一端固定连接有限位块（8），所述安装卡槽（4）的内壁设有与限位块（8）对应的限位槽（9），所述固定板（6）与安装卡槽（4）的底壁之间连接有若干个弹簧（10），所述载物板（5）的上端贴合放置有半导体芯片（7），所述主框架（2）的外壁一侧设有显示屏（3），显示屏（3）的下方设有控制按钮（15），且显示屏（3）的两侧对称设有收纳槽，所述收纳槽内设有测试笔（11），且测试笔（11）的上端设有卡座（12），所述卡座（12）的一端通过导线与内置的检测装置电性连接。