[实用新型]一种液晶模组检测装置有效

专利信息
申请号: 201721711684.1 申请日: 2017-12-11
公开(公告)号: CN208189185U 公开(公告)日: 2018-12-04
发明(设计)人: 陈文源;魏伟;江斌 申请(专利权)人: 苏州华兴源创电子科技有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 王喆
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请实施例中一种液晶模组检测装置,该装置包括:具有液晶模组容纳槽的托盘;所述托盘上设有转接基板,所述转接基板位于液晶模组容纳槽的下方;所述转接基板上设有多个测试点;所述转接基板的下方设有用于对待测液晶模组进行检测的探针组件;所述多个测试点与所述探针组件上的多个探针匹配对应。本申请所述技术方案将多组探针组件整合为单个探针组件,将整个探针组件压接在转接组件上的测试点上,从而消除了多组探针组件的相对公差、加工公差和装配公差,实现精确定位,避免多组探针组件压接时不同步的问题。
搜索关键词: 探针组件 液晶模组 转接基板 测试点 检测装置 托盘 容纳槽 压接 加工公差 转接组件 装配公差 公差 同步的 探针 整合 匹配 申请 检测
【主权项】:
1.一种液晶模组检测装置,其特征在于,该装置包括:具有液晶模组容纳槽(1)的托盘(2);所述托盘(2)上设有转接基板(4),所述转接基板(4)位于液晶模组容纳槽(1)的下方;所述转接基板(4)上设有多个测试点(5);所述转接基板(4)的下方设有用于对待检测液晶模组(3)进行检测的探针组件(6);所述多个测试点(5)与所述探针组件(6)上的多个测试点(5)匹配对应。
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