[实用新型]一种晶体探测器有效

专利信息
申请号: 201721715007.7 申请日: 2017-12-11
公开(公告)号: CN207623541U 公开(公告)日: 2018-07-17
发明(设计)人: 林振华;伯努瓦·瓦特傅依;卢国能;张庆泽 申请(专利权)人: 天津华放科技有限责任公司
主分类号: G01T1/202 分类号: G01T1/202;G01T1/208;G01T1/178
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300000 天津市南开区宜宾道*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 实用新型提供一种晶体探测器,包括晶体块、反射包裹膜、SiPM传感器、光电二极管、探测通道选择开关和中央控制器,所述晶体块为圆柱形结构,所述SiPM传感器和所述光电二极管安装在所述晶体块的外表面,所述反射包裹膜分别设置在除晶体块与SiPM传感器、光电二极管连接面外的其他外表面,此设置可加强探测器探测能量分辨率,所述探测通道选择开关与所述SiPM传感器、光电二极管均为电性连接,所述中央控制器的输入端与所述探测通道选择开关电性连接,所述中央控制器的输出端与所述SiPM传感器和光电二极管均为电性连接。设置的SiPM传感器和光电二极管保证晶体探测器探测范围,能够实现对高放射性活度与低放射性活度的晶体探测。
搜索关键词: 光电二极管 传感器 晶体探测器 中央控制器 电性连接 探测通道 探测 包裹膜 活度 反射 本实用新型 能量分辨率 圆柱形结构 低放射性 高放射性 连接面 输出端 输入端 探测器 保证
【主权项】:
1.一种晶体探测器,其特征在于:包括晶体块(1)、反射包裹膜(2)、SiPM传感器(3)、光电二极管(4)、探测通道选择开关(5)和中央控制器(6),所述晶体块(1)为圆柱形结构,所述SiPM传感器(3)和所述光电二极管(4)安装在所述晶体块(1)的同一外表面,所述反射包裹膜(2)分别设置在除晶体块(1)与SiPM传感器(3)、光电二极管(4)连接面外的其他外表面,所述探测通道选择开关(5)与所述SiPM传感器(3)、光电二极管(4)均为电性连接,所述中央控制器(6)的输入端与所述探测通道选择开关(5)电性连接,所述中央控制器(6)的输出端与所述SiPM传感器(3)和光电二极管(4)均为电性连接。
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