[实用新型]半值层测量装置有效
申请号: | 201721717632.5 | 申请日: | 2017-12-12 |
公开(公告)号: | CN207600978U | 公开(公告)日: | 2018-07-10 |
发明(设计)人: | 吴金杰;杜海燕;刘莹;赵瑞 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01N23/083 | 分类号: | G01N23/083;G01B15/02 |
代理公司: | 北京慧诚智道知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11539 | 代理人: | 李楠 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型实施例涉及一种半值层测量装置,包括:支撑部,顶部设有导轨,轨上具有滑块;调节部,包括座体、伸缩杆、调节手柄和台体;座体的底面安装于滑块上,使得调节部沿导轨运动;伸缩杆连接座体的上表面和台体的下表面,调节手柄驱动伸缩杆压缩或拉伸,从而调节台体与座体之间距离;光阑组件,置于台体上,包括屏蔽体和光阑;其中,屏蔽体上有插接孔,光阑的外边缘尺寸和插接孔相匹配,光阑插入插接孔中;吸收片支架,置于台体上,通过吸收片支架固定吸收片,使得吸收片和光阑的中心相对准。本实用新型实施例提供的半值层测量装置,通过增置光阑组件,将测量过程中的散射辐射的影响尽可能减小,实现半值层的精确测量。 | ||
搜索关键词: | 台体 吸收片 光阑 测量装置 插接孔 伸缩杆 座体 本实用新型 光阑组件 屏蔽体 滑块 手柄 测量过程 导轨运动 连接座体 散射辐射 手柄驱动 支架固定 上表面 外边缘 下表面 导轨 底面 减小 拉伸 支架 匹配 对准 测量 压缩 支撑 | ||
【主权项】:
1.一种半值层测量装置,其特征在于,所述半值层测量装置包括:支撑部,顶部设有导轨,所述导轨上具有滑块;调节部,包括座体、伸缩杆、调节手柄和台体;所述座体的底面安装于所述滑块上,使得所述调节部沿所述导轨运动;所述伸缩杆连接所述座体的上表面和所述台体的下表面,所述调节手柄驱动所述伸缩杆压缩或拉伸,从而调节所述台体与所述座体之间距离;光阑组件,置于所述台体上,包括屏蔽体和光阑;其中,所述屏蔽体上有插接孔,所述光阑的外边缘尺寸和所述插接孔相匹配,所述光阑插入所述插接孔中;吸收片支架,置于所述台体上,通过所述吸收片支架固定吸收片,使得所述吸收片和所述光阑的中心相对准。
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