[实用新型]一种半导体检验自动标记装置

摘要

本实用新型公开了一种半导体检验自动标记装置，包括载物底座，所述载物底座的顶部设有所述滑块，所述滑块的顶部设有所述固定盒，所述滑块的一侧设有所述支架，所述支架上设有所述电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的底部设有所述标记笔，所述载物底座的内部设有所述电动导轨，将所需要检验的半导体放置在滑块上的固定盒上，在显微镜下检验出不合格的半导体以后，控制电动导轨开关，通过伺服电机带动螺纹转轴转动，使滑块上的半导体移动到标记笔的正下方，然后通过操控电动伸缩机开关，使标记笔竖直向下移动，标记所需要标记的半导体，方便快捷，降低漏标的概率，提高工作效率本实用新型结构科学合理，使用安全方便。

主权项

1.一种半导体检验自动标记装置，包括载物底座(1)、固定盒(2)、电动伸缩杆开关(3)、显微镜底座(4)、电动导轨开关(5)、滑块(6)、显微镜(7)、观察孔(8)、支架(9)、电动伸缩杆(10)、标记笔(11)、电动导轨(12)、导轨(13)、螺纹转轴(14)、伺服电机(15)、电机座(16)和固定座(17)，其特征在于：所述载物底座(1)的顶部设有所述滑块(6)，所述滑块(6)的顶部设有所述固定盒(2)，所述滑块(6)的一侧设有所述支架(9)，所述支架(9)上设有所述电动伸缩杆(10)，所述电动伸缩杆(10)的底部设有所述标记笔(11)，所述载物底座(1)的内部设有所述电动导轨(12)，所述电动导轨(12)由所述导轨(13)、所述螺纹转轴(14)、所述伺服电机(15)、所述电机座(16)和所述固定座(17)组成，所述载物底座(1)的一侧设有所述显微镜底座(4)，所述显微镜底座(4)的一侧设有所述电动伸缩杆开关(3)，所述电动伸缩杆开关(3)的一侧设有所述电动导轨开关(5)，所述显微镜底座(4)的顶部设有所述显微镜(7)，所述观察孔(8)安装在所述显微镜(7)上，所述伺服电机(15)与所述电动导轨开关(5)电性连接，所述电动伸缩杆开关(3)与所述电动伸缩杆(10)电性连接。