[实用新型]一种可测量VLC装备抗杂光性能的检测装置有效
申请号: | 201721847422.8 | 申请日: | 2017-12-26 |
公开(公告)号: | CN207570763U | 公开(公告)日: | 2018-07-03 |
发明(设计)人: | 刘桂雄;吴嘉健;张沛强;郭雪梅;曾昕;龙阳;陈长缨;王佳胜 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学;广州市光机电技术研究院;广州市仪器仪表学会;广州广电计量检测股份有限公司;暨南大学;广东省标准化研究院 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人: | 王泽云 |
地址: | 510640 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种可测量VLC装备抗杂光性能的检测装置,该装置包括:杂光光源模块、抗杂光性能分析模块、双轴联动运动控制模块、主半透半反镜、副半透半反镜、待测VLC装置夹具、衰减器及箱体;所述杂光光源模块包括杂光光源与杂光光源底座;所述杂光光源底座安装在箱体底部,用于放置杂光光源;所述双轴联动运动控制模块包括X轴步进电机、X轴丝杆导轨、X轴滑动平台、Y轴步进电机、Y轴丝杆导轨与Y轴滑动平台;所述主半透半反镜通过固定件固定在箱体的底部;所述副半透半反镜安装在X轴滑动平台上。本实用新型提供的装置结构合理、实用性强、灵活性好,节省工时,提高机械移动精度,提高检测精度,替代人力,大大降低了成本。 | ||
搜索关键词: | 杂光 半透半反镜 滑动平台 运动控制模块 本实用新型 光源底座 光源模块 检测装置 双轴联动 可测量 导轨 光源 性能分析模块 机械移动 装置夹具 装置结构 固定件 衰减器 检测 替代 | ||
【主权项】:
1.一种可测量VLC装备抗杂光性能的检测装置,其特征在于,所述装置包括:杂光光源模块、抗杂光性能分析模块(209)、双轴联动运动控制模块、主半透半反镜(208)、副半透半反镜(207)、待测VLC装置夹具、衰减器(210)及箱体;所述杂光光源模块包括杂光光源(211)与杂光光源底座(212);所述杂光光源底座(212)安装在箱体底部,用于放置杂光光源;所述双轴联动运动控制模块包括X轴步进电机(201)、X轴丝杆导轨(202)、X轴滑动平台(203)、Y轴步进电机(204)、Y轴丝杆导轨(205)与Y轴滑动平台(206);所述主半透半反镜(208)通过固定件固定在箱体的底部;所述副半透半反镜(207)安装在X轴滑动平台(203)上。
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