[实用新型]一种元器件测试装置有效

专利信息
申请号: 201721849643.9 申请日: 2017-12-26
公开(公告)号: CN207866918U 公开(公告)日: 2018-09-14
发明(设计)人: 杨校华;刘兵;李旭东 申请(专利权)人: 瑞斯康达科技发展股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100094 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型实施例公开了一种元器件测试装置,包括与待测试元器件可形成电连接的测试端,所述元器件测试装置包括:基板、测试点调节组件和夹持组件,其中:所述测试点调节组件设置于所述基板上;所述夹持组件设置于所述测试点调节组件上,且由所述测试点调节机构驱动相对于所述基板的表面可移动。本实用新型所提供的一种元器件测试装置,利用三维可调节的测试点调节组件来调整用于对待测对象进行测试的测试端位置,且同时使得测试端对测试点具有预定的夹持力来实现测试夹紧过程,实现简单且可靠。
搜索关键词: 测试点 元器件测试装置 调节组件 测试端 基板 本实用新型 夹持组件 测试元器件 机构驱动 测试夹 电连接 夹持力 可调节 可移动 三维 测试
【主权项】:
1.一种元器件测试装置,包括与待测试元器件可形成电连接的测试端,其特征在于,所述元器件测试装置还包括:基板、测试点调节组件和夹持组件,其中:所述测试点调节组件设置于所述基板上;所述夹持组件设置于所述测试点调节组件上,且由所述测试点调节组件驱动相对于所述基板的表面可移动。
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