[实用新型]一种半导体芯片的封装结构有效

专利信息
申请号: 201721875145.1 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN207818560U 公开(公告)日: 2018-09-04
发明(设计)人: 张黎;赖志明;陈锦辉;陈栋 申请(专利权)人: 江阴长电先进封装有限公司
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L23/31;H01L21/56
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 赵华
地址: 214400 江苏省无锡市江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种半导体芯片的封装结构,属于半导体芯片封装技术领域。其在硅基本体的上方设置金属柱(20),所述金属柱(20)的高度>40微米,所述金属柱(20)与芯片焊盘固连,所述包封层(40)包裹金属柱(20)和和硅基本体(10)的侧壁,并露出金属柱(20)的上表面,所述介电层(50)的上表面设置再布线金属层(30)和输入/输出端(31),所述再布线金属层(30)通过介电层开口(501)与金属柱(20)固连,所述输入/输出端(31)设置在金属柱(20)的垂直区域之外,所述包封层(40)于硅基本体(10)至介电层(50)的厚度H>40微米;所述硅基本体(10)的背面设置背面保护层(18)。有效的避免了焊球应力直接通过铜柱作用到芯片上。
搜索关键词: 金属柱 基本体 介电层 再布线金属层 输入/输出端 半导体芯片 封装结构 包封层 上表面 固连 半导体芯片封装 背面保护层 本实用新型 背面设置 垂直区域 芯片焊盘 侧壁 焊球 铜柱 开口 芯片
【主权项】:
1.一种半导体芯片的封装结构,其包括硅基本体(10),所述硅基本体(10)的正面设有钝化层并嵌有芯片焊盘,其钝化层开口露出芯片焊盘的上表面,其特征在于,在所述硅基本体的上方设置金属柱(20),所述金属柱(20)的高度>40微米,所述金属柱(20)与芯片焊盘固连,还包括包封层(40)、介电层(50)和保护层(70),所述包封层(40)包裹金属柱(20)和硅基本体(10)的侧壁,并露出金属柱(20)的上表面,所述介电层(50)设置在包封层(40)的上表面,并开设介电层开口(501)露出金属柱(20)的上表面,所述介电层(50)的上表面设置再布线金属层(30)和输入/输出端(31),所述再布线金属层(30)通过介电层开口(501)与金属柱(20)固连,所述输入/输出端(31)设置在金属柱(20)的垂直区域之外,在所述输入/输出端(31)设置连接件(60),所述保护层(70)填充再布线金属层(30)和介电层(50)的裸露面并露出连接件(60)的上表面;所述包封层(40)于硅基本体(10)至介电层(50)的厚度H>40微米;所述硅基本体(10)的背面设置背面保护层(18)。
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