[发明专利]检查设备有效
| 申请号： | 201780006898.5 | 申请日： | 2017-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN108603843B | 公开（公告）日： | 2022-05-03 |
| 发明（设计）人： | 本尼迪克特·德弗霍特;蒂莫西·科尔夫 | 申请（专利权）人： | 布勒英国有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/85 | 分类号： | G01N21/85 |
| 代理公司： | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 | 代理人： | 郑立;应风晔 |
| 地址： | 英国西萨*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： |
一种用于检查颗粒材料流的检查设备，其包括：背景反射器(105)，邻近所述背景反射器(105)在使用中落下颗粒材料(F)流；以及照明单元(107)，用于照射所述背景反射器(105)上的细长视场(VF)，所述视场(VF)具有第一宽度(w |
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| 搜索关键词： | 检查 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于检查颗粒材料流的检查设备，所述颗粒材料至少部分地由至少部分半透明的颗粒或至少部分透明的颗粒中的一种或两种组成，所述检查设备包括：背景反射器(105)，邻近所述背景反射器(105)在使用中落下颗粒材料(F)流；以及照明单元(107)，用于照射所述背景反射器(105)上的细长视场(VF)，所述视场(VF)在所述背景反射器(105)上具有第一宽度(w1)；其特征在于，所述照明单元(107)包括固定的非扫描光源(115)，其中所述光源(115)由一个或多个光元件(120)形成，并且其中所述光源(115)在所述背景反射器(105)上具有第二宽度(w2)，所述第二宽度(w2)小于所述视场(VF)的所述第一宽度(w1)的50％，由此所述光源(115)的所述第二宽度(w2)基本上窄于所述视场(VF)的所述第一宽度(w1)。
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