[发明专利]形状测量装置以及待涂覆目标物体的制造方法有效

专利信息
申请号: 201780010383.2 申请日: 2017-01-10
公开(公告)号: CN108603751B 公开(公告)日: 2020-09-01
发明(设计)人: 大庭博明 申请(专利权)人: NTN株式会社
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 俞丹;张鑫
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种能准确地测量目标物体的形状的形状测量装置及使用该形状测量装置制造待涂覆目标物体的方法。根据本发明的形状测量装置,通过向目标物体照射白光并使用来自目标物体的反射光来测量目标物体的形状。其包括光源、双光束干涉物镜、成像装置、观察光学系统、定位装置、控制装置。控制装置对于由成像装置获得的多个图像中的每个单位区域,计算在多个图像中基于亮度的评估值达到最大时的双光束干涉物镜的位置作为单位区域的焦点位置,并基于多个图像中的每个单位区域的焦点位置来测量目标物体的形状。控制装置使用多个图像中的每个单位区域的亮度、以及与该单位区域的亮度和该单位区域相邻的多个单位区域的亮度之差相关的值,作为评估值。
搜索关键词: 形状 测量 装置 以及 待涂覆 目标 物体 制造 方法
【主权项】:
1.一种形状测量装置,通过向目标物体照射白光并使用来自所述目标物体的反射光来测量所述目标物体的形状,其特征在于,包括:光源,该光源输出所述白光;双光束干涉物镜,该双光束干涉物镜将所述白光分成两束光束,将所述两束光束中的一束光束照射到所述目标物体上,将另一束光束照射到参照面上,使来自所述目标物体的反射光与来自所述参照面的反射光发生干涉以输出干涉光;成像装置,该成像装置获得从所述双光束干涉物镜输出的干涉光的图像;观察光学系统,该观察光学系统通过所述双光束干涉物镜将从所述光源输出的所述白光引导到所述目标物体的表面,并通过所述双光束干涉物镜将来自所述表面的所述反射光引导到所述成像装置;定位装置,该定位装置使所述双光束干涉物镜相对于所述目标物体移动;以及控制装置,该控制装置被配置为在所述双光束干涉物镜的光轴方向上改变所述目标物体和所述双光束干涉物镜之间的距离的同时获得多个图像,并使用所述多个图像来测量所述目标物体的形状,所述控制装置对于所述多个图像中的每个单位区域,计算在所述多个图像中基于亮度的评估值达到最大时的所述双光束干涉物镜的位置作为该单位区域的焦点位置,并基于所述多个图像中的每个单位区域的焦点位置来测量所述目标物体的形状,并且使用所述多个图像中的每个单位区域的亮度、以及所述单位区域的亮度和所述单位区域相邻的多个单位区域的亮度之差相关的值,作为所述评估值。
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