[发明专利]具备离子迁移率分离部的分析装置有效
| 申请号： | 201780010707.2 | 申请日： | 2017-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN108603860B | 公开（公告）日： | 2020-12-15 |
| 发明（设计）人： | 佐竹宏之;西村和茂;长谷川英树;杉山益之 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 范胜杰;王立杰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 为了使具有离子迁移率分离部的分析装置具有高的耐久性和鲁棒性而具有：离子源、具备被施加高频电压和直流电压的一对对置的电极的离子迁移率分离部以及设置在离子源和离子迁移率分离部之间且被施加直流电压的屏蔽电极，屏蔽电极在内部具有连接导入来自离子源的离子的入口和排出离子的出口的离子流路，离子流路弯曲使得从入口见不到出口。 | ||
| 搜索关键词： | 具备 离子迁移率 分离 分析 装置 | ||
【主权项】：
1.一种分析装置，其特征在于，该分析装置具有：离子源；离子迁移率分离部，其具备被施加高频电压和直流电压的一对对置的电极；以及屏蔽电极，其设置在上述离子源和上述离子迁移率分离部之间且被施加直流电压，上述屏蔽电极在内部具有连接导入来自上述离子源的离子的入口和排出上述离子的出口的离子流路，上述离子流路弯曲使得从上述入口见不到上述出口。
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