[发明专利]减少表面缺陷的方法有效

专利信息
申请号: 201780010886.X 申请日: 2017-08-09
公开(公告)号: CN108698923B 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: J·阿明;金宇辉;K·L·史密斯 申请(专利权)人: 康宁股份有限公司
主分类号: C03C21/00 分类号: C03C21/00;C03C3/093;C03C3/097
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 高宏伟;乐洪咏
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开提供了一种减少强化基材中含缺陷区域以生产无缺陷基材的方法。所述方法包括使经过强化的含缺陷基材与加热了的含有至少一种一价盐的盐浴接触;并且从该盐浴中取出该强化基材。在与盐浴接触之前,强化基材是具有至少一个含缺陷区域和一个或更多个无缺陷区域的含缺陷基材。从盐浴中取出后,至少一个含缺陷区域已被减少或基本上被除去,从而制得无缺陷基材。
搜索关键词: 减少 表面 缺陷 方法
【主权项】:
1.一种除去强化基材中的含缺陷区域的方法,所述方法包括:将包含至少一种一价盐的盐浴加热至高于或等于95℃的温度;使强化基材的至少一部分与所述盐浴接触,其中,在所述强化基材与所述盐浴接触之前,所述强化基材具有一个或更多个无缺陷区域和至少一个含缺陷区域,其中,所述无缺陷区域具有总金属一价阳离子平均浓度,所述含缺陷区域具有与所述一个或更多个无缺陷区域的所述平均浓度相差大于或等于10摩尔%的总金属一价阳离子平均浓度;从所述盐浴中取出所述强化基材的所述至少一部分,且取出后,所述至少一个含缺陷区域具有与所述一个或更多个无缺陷区域的所述总金属一价阳离子平均浓度相差小于10摩尔%的总金属一价阳离子平均浓度。
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