[发明专利]层叠半透膜有效
申请号: | 201780013648.4 | 申请日: | 2017-02-28 |
公开(公告)号: | CN108697996B | 公开(公告)日: | 2021-09-10 |
发明(设计)人: | 德山尊大;小川贵史;富冈洋树 | 申请(专利权)人: | 东丽株式会社 |
主分类号: | B01D69/12 | 分类号: | B01D69/12;B01D67/00;B01D69/10;B01D71/40;B01D71/56;B01D71/82;B32B27/00 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 杨宏军;李国卿 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明涉及满足下述条件的层叠半透膜。(A)在25℃、相对湿度97%的条件下测得的IR光谱、与在25℃、相对湿度3%的条件下测得的IR光谱的差光谱中,3700~2900cm |
||
搜索关键词: | 层叠 半透膜 | ||
【主权项】:
1.层叠半透膜,其具有半透层、和设置于所述半透层上的涂层,并且,所述层叠半透膜满足下述条件(A)、(B)及(C):(A)在25℃、相对湿度97%的条件下测得的IR光谱、与在25℃、相对湿度3%的条件下测得的IR光谱的差光谱中,3700~2900cm‑1间的最大峰的强度为0.08以上;(B)所述差光谱的3700~2900cm‑1间的峰顶波数为3400cm‑1以上且3550cm‑1以下;(C)在通过对所述涂层照射X射线而进行的X射线光电子能谱测定中,N1s的峰在401eV以上具有极大值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东丽株式会社,未经东丽株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201780013648.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。