[发明专利]层叠半透膜有效

专利信息
申请号: 201780013648.4 申请日: 2017-02-28
公开(公告)号: CN108697996B 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 德山尊大;小川贵史;富冈洋树 申请(专利权)人: 东丽株式会社
主分类号: B01D69/12 分类号: B01D69/12;B01D67/00;B01D69/10;B01D71/40;B01D71/56;B01D71/82;B32B27/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 杨宏军;李国卿
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及满足下述条件的层叠半透膜。(A)在25℃、相对湿度97%的条件下测得的IR光谱、与在25℃、相对湿度3%的条件下测得的IR光谱的差光谱中,3700~2900cm‑1间的最大峰的强度为0.08以上。(B)上述差光谱的3700~2900cm‑1间的峰顶波数为3400cm‑1以上且3550cm‑1以下。(C)在对上述涂层照射X射线的X射线光电子能谱测定中,N1s的峰在401eV以上具有极大值。
搜索关键词: 层叠 半透膜
【主权项】:
1.层叠半透膜,其具有半透层、和设置于所述半透层上的涂层,并且,所述层叠半透膜满足下述条件(A)、(B)及(C):(A)在25℃、相对湿度97%的条件下测得的IR光谱、与在25℃、相对湿度3%的条件下测得的IR光谱的差光谱中,3700~2900cm‑1间的最大峰的强度为0.08以上;(B)所述差光谱的3700~2900cm‑1间的峰顶波数为3400cm‑1以上且3550cm‑1以下;(C)在通过对所述涂层照射X射线而进行的X射线光电子能谱测定中,N1s的峰在401eV以上具有极大值。
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