[发明专利]测试插座以及导电颗粒有效
申请号: | 201780015074.4 | 申请日: | 2017-05-11 |
公开(公告)号: | CN108780116B | 公开(公告)日: | 2021-01-05 |
发明(设计)人: | 郑永倍 | 申请(专利权)人: | 株式会社ISC |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/28;G01R3/00;H01B5/14;H01B5/16 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 杨贝贝;臧建明 |
地址: | 韩国京畿道城南市中院区渴马*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种测试插座以及导电颗粒。测试插座包括:多个导电部,排列于与测试目标装置的端子对应的位置且在测试插座的表面方向上彼此间隔开,导电部中的每一者包括多个导电颗粒,多个导电颗粒包含于弹性绝缘材料中且在测试插座的厚度方向上对齐;以及绝缘支撑体,排列于彼此间隔开的导电部之间,以支撑导电部并使导电部在表面方向上彼此绝缘,其中导电颗粒中的每一者包括:本体,具有柱形状;以及至少两个突出部,自本体的上端部突出,其中在彼此相邻的突出部之间设置有朝本体凹陷的凹陷部,且突出部的相互面对的内表面之间的角度是小于90°的锐角。 | ||
搜索关键词: | 测试 插座 以及 导电 颗粒 | ||
【主权项】:
1.一种测试插座,被配置成放置于测试目标装置与测试设备之间,以将所述测试目标装置的端子电性连接至所述测试设备的接垫,其特征在于所述测试插座包括:多个导电部,排列于与所述测试目标装置的所述端子对应的位置且在所述测试插座的表面方向上彼此间隔开,所述导电部中的每一者包括多个导电颗粒,所述多个导电颗粒包含于弹性绝缘材料中且在所述测试插座的厚度方向上对齐;以及绝缘支撑体,排列于彼此间隔开的所述导电部之间,以支撑所述导电部并使所述导电部在所述表面方向上彼此绝缘,其中所述导电颗粒中的每一者包括:本体,具有柱形状;以及至少两个突出部,自所述本体的上端部突出,其中在彼此相邻的所述突出部之间设置有朝所述本体凹陷的凹陷部,且所述突出部的相互面对的内表面之间的角度是小于90°的锐角。
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