[发明专利]光电子系统在审
申请号: | 201780015701.4 | 申请日: | 2017-02-16 |
公开(公告)号: | CN109690247A | 公开(公告)日: | 2019-04-26 |
发明(设计)人: | 田宜彬;亨德里克·沃尔克林 | 申请(专利权)人: | 赫普塔冈微光有限公司 |
主分类号: | G01C3/08 | 分类号: | G01C3/08;G03B35/00 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国;吴启超 |
地址: | 新加坡新*** | 国省代码: | 新加坡;SG |
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摘要: | 本公开描述用于有效地捕获三维数据的光电子系统和方法。所述光电子系统包括三维成像模块和距离测量模块。经由所述距离测量模块收集的数据用来收集三维数据,诸如三维对象的三维图或其他表示。此外,所述方法可扩展到多个感兴趣区域,并且可被应用于生物计量数据的获取。 | ||
搜索关键词: | 光电子系统 距离测量模块 三维数据 生物计量数据 感兴趣区域 三维成像 三维对象 可扩展 三维图 有效地 捕获 应用 | ||
【主权项】:
1.一种用于收集三维数据的光电子系统,所述光电子系统包含:三维成像模块、距离测量模块,和处理器;所述三维成像模块包括强度成像器,所述强度成像器包括光敏强度元件阵列和光学组件,该三维成像模块可操作以收集场景的至少一个强度图像;所述距离测量模块包括第一发光部件和光敏距离元件阵列,所述第一发光部件可操作以生成第一特定波长或波长范围,所述光敏距离元件阵列对由所述第一发光部件生成的光的所述第一特定波长或波长范围敏感,所述距离测量模块可操作以收集所述场景的数据;并且所述处理器可操作以从所述至少一个强度图像和由所述距离测量模块收集的所述数据生成所述三维数据。
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