[发明专利]测试元件分析系统有效
| 申请号： | 201780015876.5 | 申请日： | 2017-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN108713139B | 公开（公告）日： | 2020-09-04 |
| 发明（设计）人： | K.黑贝施特赖特;S.萨克;K.托梅;W.海特 | 申请（专利权）人： | 豪夫迈·罗氏有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/327 | 分类号： | G01N27/327;A61B5/145;G01N33/487 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 秦宝龙;申屠伟进 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了用于样品（118）（特别地体液）的分析检查的测试元件分析系统（110）。该测试元件分析系统（118）包括具有用于定位包含样品（118）的测试元件（116）的测试元件支架（114）的评估设备（112）和用于测量测试元件（116）的测量区带（122）中的变化的测量设备（134），该变化是分析物的特性。该测试元件支架（114）包含具有接触表面（133）的接触元件（132），该接触表面（133）允许测试元件（116）的接触表面（117）和测试元件支架（114）的接触表面（132）之间的电气接触。该测试元件支架（114）的接触元件（132）的接触表面（133）被提供有含有金属钌（146）的导电表面（145）。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 元件 分析 系统 | ||
【主权项】：
1.用于样品（118）、特别地体液的分析检查的测试元件分析系统（110），包括：‑ 具有用于定位包含样品（118）的测试元件（116）的测试元件支架（114）的评估设备（112）和用于测量测试元件（116）的测量区带（122）中的变化的测量设备（134），该变化是分析物的特性，其中该测试元件支架（114）包含具有接触表面（133）的接触元件（132），该接触表面（133）允许测试元件（116）的接触表面（117）和测试元件支架（114）的接触表面（133）之间的电气接触，‑ 其中该测试元件支架（114）的接触元件（132）的接触表面（133）被提供有含有金属钌（146）的导电表面（145），其中该测试元件支架（114）包括包含具有接触表面（133）的接触元件（132）的至少一个金属件（148），其中该金属件（148）由不同于钌的至少一种导电材料（150）制成，其中该接触元件（132）的区域中的导电材料（150）被完全或部分涂覆有钌。
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