[发明专利]测试插座组件有效
| 申请号： | 201780018232.1 | 申请日： | 2017-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN108780117B | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 郑宰欢 | 申请（专利权）人： | 李诺工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨贝贝;臧建明 |
| 地址： | 韩国釜山市江西区美音产团路*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开一种测试插座组件，用于电连接测试物体中的待测试的接触点与用于在测试电路中测试的接触点。测试插座组件包含：多个信号探针；插座块体，包含面朝测试电路的底部表面、面朝测试物体的顶部表面、用于在多个信号探针的相对末端自顶部表面及底部表面曝露时容纳多个信号探针以彼此平行的多个探针孔以及自顶部表面及底部表面的排除探针孔的周界区域的至少部分区域凹入的凹入部分；以及弹性接地构件，容纳于凹入部分中且是由导电弹性材料制成以与测试物体及测试电路中的至少一者接触。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 插座 组件 | ||
【主权项】：
1.一种测试插座组件，用于电连接测试物体中的待测试的接触点与用于在测试电路中测试的接触点，所述测试插座组件包括：多个信号探针；插座块体，包括面朝所述测试电路的底部表面、面朝所述测试物体的顶部表面、用于在所述多个信号探针的相对末端自所述顶部表面及所述底部表面曝露时容纳所述多个信号探针以彼此平行的多个探针孔以及自所述顶部表面及所述底部表面的排除所述探针孔的周界区域的至少部分区域凹入的凹入部分；以及弹性接地构件，容纳于所述凹入部分中且是由导电弹性材料制成以与所述测试物体及所述测试电路中的至少一者接触。
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